Argumento de Técnicas de Análisis y Caracterización de Materiales (2ª Edición Revisada y Aumentada)
En esta segunda edición de Técnicas de análisis y caracterización de materiales, se actualiza la información sobre algunos de los métodos que ya se examinaban en la primera edición: los procedimientos espectroscópicos, que permiten obtener información sobre la composición química y estructural de los materiales; la técnica de difracción de rayos X, la microscopía y el análisis térmico, que proporcionan datos sobre la morfología y textura de los materiales; y los procedimientos analíticos, como las técnicas cromatográficas. Esa información se completa ahora con el examen de los métodos electroanalíticos, que no se estudiaban en la primera edición, y con una exposición sobre los sistemas de gestión de la calidad en los laboratorios, un aspecto determinante para los resultados de los análisis. Algunos capítulos se han reestructurado con la intención de ganar en claridad expositiva, se han buscado posibilidades más novedosas de aplicación de los procedimientos, y se han añadido varias ilustraciones.0Introducción (Miguel A. Peña Jiménez).- Espectroscopía ultravioleta-visible (UV-VIS) (María del Mar Alonso López).- Espectroscopía de luminiscencia: fluorescencia y fosforescencia (Cristina Otero Hernández).- Espectroscopía infrarroja (IR) (Carlos Márquez Álvarez, Antonio López de Lacey).- Espectroscopía RAMAN (Miguel Ángel Bañares González, Vanesa Calvino Casilda).- Análisis químico: espectroscopía de absorción y emisión atómica. Preparación de muestras. Análisis elemental (Marisol Faraldos Izquierdo).- Espectrometría de masas (Manuel Ojeda Pineda, Manuel López Granados).- Espectroscopía de resonancia paramagnética electrónica (EPR) (Arturo Martínez Arias).- Espectroscopía de resonancia magnética nuclear (RMN) (Isabel Sobrados de la Plaza).- Espectroscopías de absorción de rayos X (XES y XAFS: EXAFS y XANES) (Marcos Fernández-García, Ana Iglesias-Juez, Anna Kubacka).- Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) (José Miguel Campos Martín).- Difracción de rayos X (Marisol Faraldos Izquierdo, Susana Pérez Ferreras).- Microscopía electrónica de materiales (Isabel Díaz Carretero, Laura Pascual Maroto).- Microscopía de fuerza (AFM) y de efecto túnel (STM) (Marisela Vélez Tirado).- Área superficial, textura y distribución porosa (Malcolm Yates Buxcey).- Análisis térmico (Enrique Sastre de Andrés).- Métodos electroanalíticos (Marcos Pita Martínez, Antonio López de Lacey).- Cromatografía de gases (GC) (Jose Miguel Campos Martín).- Cromatografía líquida de alta resolución (HPLC) (Francisco J. Plou Gasca, Pamela Torres Salas).- Caracterización de materiales mediante estudios de actividad catalítica (Ana M.ª Bahamonde Santos, Ana Rey Barroso).- Adquisición de datos, supervisión y control de equipos de laboratorio por ordenador (Consuelo Goberna Selma).- Calidad en el Laboratorio (Isabel Pacheco Pérez).
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